界面物性評価
Organizers:
Representative
| ･ 山下 良之 | 物質･材料研究機構 |
Correspondence
| ･ 山下 良之 | 物質･材料研究機構 | yamashita.yoshiyuki@nims.go.jp |
| ･ 吉川 英樹 | 物質･材料研究機構 | YOSHIKAWA.Hideki@nims.go.jp |
Scope:
界面物性は物理、化学、生命化学などの基礎科学の観点から広く興味を集める一方、電子工学、金属工学、工業化学、さらには機械工学に及ぶ工学の広い分野においても重要となっている。例えば半導体界面においては界面に生じた欠陥が電子の移動度の低下となり、界面に生じたダイポールは電気的特性に影響を及ぼす。最近では半導体レーザー、高感度センサーなどのエレクトロニクスの分野において界面の制御がその性能を左右する重要な因子となっている。また、薄膜成長は基板と成長核界面が薄膜成長に重要な役割を担っている。近年の新規材料の開発により、物質界面は多種、多様化しており、それに伴い界面物性評価も従来の手法に加えて、新規な界面評価法も開発されている。加えて、物理学、化学、材料科学の分野においては界面における分子、原子スケールでの理解が必要不可欠となってきている。近年のコンピューターのスピードの増加に伴い、界面の理論計算が進歩しており、理論計算が界面物性を理解する上で重要な役割を担ってきている。
本シンポジウムでは界面物性の評価に関する発表を通して、多種多様な視点から界面に評価に関する議論を行う事を期待する。半導体界面、金属/酸化物界面、有機物/半導体界面、二次電池界面、燃料電池界面、液体/固体界面等の界面物性の評価を本シンポジウムの主たるトピックと考えているが、表面における金属、分子の評価、界面の新評価手法等の発表も歓迎する。本シンポジウムを通して異種分野間の融合による新たは評価方法の発展を期待する。
Topics:
1. 半導体界面評価
2. 金属/酸化物界面評価
3. 有機物/半導体界面評価
4. 二次電池界面評価
5. 液体/固体界面評価