D-3 : 界面物性評価 D-3 : Interface Characterization |
|||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Entry No | Presentation | Date | Award | Presenter Name | Affiliation | Paper Title | |||
Dec. 10 09:30 - 12:00 Place: 横浜情報文化センター/ Yokohama Media & Communications Center Core time: 10:30-11:30 |
|||||||||
Chair : Chair :
山下良之 （物質・材料研究機構）
Yoshiyuki YAMASHITA (NIMS) |
|||||||||
| 2326 | D3-P10-001 | Dec. 10 | *D | 吉池 雄作 Yusaku YOSHIIKE |
東京工業大学 Tokyo Institute of Technology |
Ag/Si(111)√3x√3-Bにおける埋もれた界面構造のSTMイメージング STM imaging of buried interface for Ag-ultra-thin-films on Si(111)√3x√3-B substrates |
|||
| 2413 | D3-P10-002 | Dec. 10 | 川瀬 滉貴 Koki KAWASE |
慶應義塾大学理工学部 Faculty of Science and Technology, Keio University |
酸化物含有カーボンナノファイバーへのホットプレス処理によるリチウムイオン電池電極の性能向上 Hot press treatment of iron oxide composite carbon nanofibers for improvement of Lithium ion battery electrode performance |
||||